Socket de Test de Burn-In

Un socket de test de burn‑in est un support spécialisé pour semi‑conducteurs qui maintient le composant en place pendant des essais prolongés sous fortes contraintes (température et charge élevées), afin de provoquer et détecter les défaillances précoces, d’évaluer la durabilité et de garantir que seuls les composants les plus fiables seront intégrés dans les produits finaux.
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